探头设计人员根据材料特性,客户检测方式的需求,为PE类材质的检测专门定制了两款探头,针对薄板和厚板的材质衰减及超声波反射情况,采用不同的检测工艺,以到达直观、清晰的检测效果。探头晶片排列结构优化了探头的性能,增加探头在PE类板材扫查时覆盖的面积,提高了检测效率。
探头设计人员根据材料特性,客户检测方式的需求,为PE类材质的检测专门定制了两款探头,针对薄板和厚板的材质衰减及超声波反射情况,采用不同的检测工艺,以到达直观、清晰的检测效果。探头晶片排列结构优化了探头的性能,增加探头在PE类板材扫查时覆盖的面积,提高了检测效率。
型号 | 频率(MHZ) | 晶片 数量 |
阵元中心 距离(mm) |
阵元 长度(mm) |
探头 类别 |
电缆线 容量 |
连接器 型号 |
其他 |
1MHz-PTFE | 1 | 64 | 1.5 | 22 | C62 | 110 | P2 | 轮式PTFE板材扫查架SCQPA-PB |
2.5MHz-PTFE | 2.5 | 64 | 1.0 | 10 | C13 | 110 | P2 | 轮式PTFE板材扫查架SCQPA-PB |