一、平面工件检测解决方案
相控阵检测仪、配套多种扫查设备、配套本公司自主研制的相控阵探头，可完美解决平面C扫描检测的难题，提供四种解决方案供选择。
方案1：滚轮探头单轴C成像扫查器SCQgl-1，内置有高分辨率的相控阵探头5L64-0.8；适用于大面积快速C扫描检测。
滚轮探头单轴C成像扫查器SCQgl-1是一款大面积C扫的专用扫查器，用于检测复合材料等行业的表面光滑的材料，该探头接触材料采用与水相似的声阻抗，耦合效果特佳，声束覆盖宽度达51.2毫米。只需滚动探头，图像即可呈现，大大提高你的检测效率。
方案2：拉线双轴C成像扫查器SCQlx-1，高分辨率相控阵探头5L64-0.6；适用于特定区域的精确C扫描检测。
拉线双轴C成像扫查器采用两个高分辨率的拉线编码器，仪器软件设计专用的扫查操作模块，扫查时将拉线编码器固定在扫查工件上，可以采用磁吸或真空吸附满足不同检测工件的要求。工作的时候，将两个拉线编码器的线夹固定于扫查探头的固定位置上，扫查时探头可以在设定的检测范围内任意方向平移移动，扫查工作就像涂鸦或刷油漆一样便捷，除了时候平面工件之外，也适合曲率不大的曲面工件。
方案3：手动简易单轴C成像扫查器SCQpa-2、高分辨率相控阵探头5L64-0.8；适用于大面积快速C扫描检测。
SCQpa-2相控阵扫查器是一款简易的扫查器，在探头楔块上挂装一个高精度的防水防尘编码器，根据使用场合的不同设计不同的楔块，可满足各种应用场合，可对大面积复合材料全面积进行C成像检测，也可对一些狭窄空间的复合材料进行C扫成像检测，该扫查设备简易、小巧、使用灵活方便，通过定制各种类型的楔块，可满足不同的应用场合。
方案4：手动双轴C成像扫查器SCQcscan-1、高分辨率相控阵探头5L64-0.6；适用于特定区域的精确C扫描检测。
手动双轴C成像扫查器SCQcscan－1扫查器可以实现带有位置信息反馈的XY两轴自由滑移运动，配合不同探头适用于用于平板类金属、复合材料接触式大面积C成像精确定位探伤。XY两轴分辨率可选，最高为0.1mm/step，根据需要可以选择磁性或者真空吸附的底座以适应不同材料需要。
二、圆角工件检测解决方案
采用本公司的CTS-2108PA相控阵检测仪、配套公司曲面线阵探头及专用楔块，可完美解决圆角C扫描检测的难题。
探头参数：探头阵元排列为圆弧状，圆弧曲率半径为R，阵元间距为P，阵元数目为N；工件参数：工件曲面为圆弧状，圆弧曲率半径为r。假设探头覆盖角度范围为90°，则探头参数需满足要求：2πR / 4 = P *（N-1），即P = πR / 2（N-1）；
三、应用案例
复合材料叶片检测:
专用复合材料叶片检测探头，能够实现狭窄空间的检测需求
蜂窝芯复合材料检测:
蜂窝检测，能够快速判别蜂窝脱粘情况，无脱粘的区域每个蜂窝孔清晰可见
特薄复合材料工件检测（1mm）:
无缺陷检测图像（1mm）
有缺陷显示检测图像（缺陷位于0.5mm）
采用10MHz的高频率窄脉冲探头，能够实现只有零点几毫米厚的铝蜂窝复合材
3D全聚焦检测技术解决方案:
复合材料钻孔分层的检测
3D全聚焦成像检测界面
